|
一、用途：
XR4A顯微熔點(diǎn)測定儀（控溫型） 廣泛應(yīng)用于醫(yī)藥、化工、紡織、橡膠等方面的生產(chǎn)化驗(yàn)、檢驗(yàn)；高等院�；瘜W(xué)系等部門對單晶或共晶等有機(jī)物質(zhì)的分析；工程材料和固體物理的研究；觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化等物理變化的過程提供了有利的熔點(diǎn)測定裝置。
二、技術(shù)參數(shù)：
1、放大倍數(shù)： 6.5X-45X
2、工作距離：100mm
3、視場范圍：30.77- 4.44mm
4、測溫范圍：室溫-300℃
5、測量精度：±1℃
6、測 試 量：≯0.1mg
7、顯示方式：四位LED數(shù)碼管
8、傳感器分度號(hào)：PT-100
9、電源：AC220V 50Hz
11、使用環(huán)境：溫度0-40℃濕度<85%
三、主要配置：體視顯微鏡主機(jī)、10X目鏡、程序自動(dòng)控溫系統(tǒng)、熔點(diǎn)測定熱臺(tái)、0-300℃溫度傳感器、防霧玻璃、取物金屬鑷子、散熱器、電源線（三芯）、合格證、保修卡、使用說明書、
選購件:20X目鏡、0.5X、2X大物鏡、移動(dòng)工作臺(tái)（120mm*60mm）、適配鏡、攝像頭、圖像采集卡、數(shù)碼相機(jī)。
| 
點(diǎn)擊放大